蘇州英飛思科學儀器有限公司,EDX8000T Plus鍍層測厚儀,英文名字:Efficiency Scientific Instrument Co.,Ltd.
公司logo和英文縮寫為ESI。
英飛思ESI坐落于美麗而現(xiàn)代的蘇州工業(yè)園。
XRF鍍層測厚儀工作原理鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒-30秒內(nèi)完成。
XRF金屬鍍層測厚儀產(chǎn)品特點
>測試快速,無需樣品制備
>可通過內(nèi)置高清CCD攝像機來觀察及選擇定位微小面積鍍層厚度的測量,避免直接接觸,污染或破壞被測物
>備有多種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品
>可覆蓋元素周期表Mg鎂到U鈾
>SDD檢測器,具有高計數(shù)范圍和出色的能量分辨率
>可切換準直器和濾光片
XRF金屬鍍層測厚儀應用場景
>EDX8000B鍍層測厚儀可以用于PCB鍍層厚度測量,PCB鍍層分析,金屬電鍍鍍層分析;
>測量的對象包括鍍層、敷層、貼層、涂層、化學生成膜等
>可測量離子鍍、電鍍、蒸鍍、等各種金屬鍍層的厚度
測厚儀
材料的鍍層厚度是一個重要的生產(chǎn)工藝參數(shù),其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果、導電性、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命,因此,鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開發(fā)的EDX8000B鍍層測厚儀是專門針對于鍍層材料成分分析和鍍層厚度測定。其主要優(yōu)點是準確,快速,無損,操作簡單,測量速度快??赏瑫r分析多達五層材料厚度,并能對鍍層的材料成分進行快速鑒定。
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