XRF鍍層測厚儀工作原理
鍍層測厚儀EDX8000B是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低,所以不會對樣品造成損壞。同時,微區(qū)膜厚儀廠商,測量的也可以在10秒-30秒內(nèi)完成。
>鍍鉻,例如帶有裝飾性鍍鉻飾面的塑料制品
>鋼上鋅等防腐涂層
>電路板和柔性PCB上的涂層
>插頭和電觸點的接觸面
>電鍍液分析
>鍍層,如金基上的銠材料分析
>電鍍液分析
>分析電子和半導體行業(yè)的功能涂層
>分析硬質材料涂層,例如 CrN、TiN 或 TiCN
>可拓展增加RoHS有害元素分析功能
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